پاسخ به:مقالات اپتيك و فوتونيك ايران
جمعه 25 فروردین 1391 10:19 PM
حسين آبادي سكينه، مرتضي علي عبداله، سركرده اي محمدرضا، جعفري رضا |
كنفرانس اپتيك و فوتونيك ايران 1385;بهمن 1385(13) |
کلید واژه: لايه نازک آلمينيوم، خواص نانو ساختاري، پراکندگي نور، روش کيرشهف |
خلاصه:
در اين مقاله، لايه هاي نازک آلمينيومي در 5 ضخامت مختلف با استفاده از دستگاه تبخير در خلا بر روي سطوح شيشه اي لايه نشاني شده اند. با استفاده از اطلاعات حاصل از ميكروسكوپ نيروي اتمي(AFM) ٬ زمختي (زبري) و طول همدوسي اين سطوح اندازه گيري شده است. بررسي بازه تقريب کيرشهف در پراکندگي نور از سطوح آلمينيومي٬ تعيين شدت نور پراکنده در زواياي پراکندگي مختلف و همچنين خواص اپتيکي از قبيل بازتاب و پراکندگي نانو ساختاري از آن سطوح در ضخامت هاي مختلف از جمله مراحل اين تحقيق مي باشد. |