مـرجع کامل کلمات اخـتصاری و اصطلاحـات مـتداول

 
MFM
Magnetic Force Microscope
میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) نوعی میکروسکوپ توسعه یافته از ایدهٔ میکروسکوپ نیروی اتمی است. این میکروسکوپ از تغییرات فضایی نیروی مغناطیسی بین سطح نمونه و نوک کانتی لیور برای تصویرسازی استفاده می‌کند.
TEM
Transmission Electron Microscopy
میکروسکوپ الکترونی عبوری یا TEM نوعی میکروسکوپ الکترونی است که قابلیت عکس‌برداری از ریزساختار مواد با بزرگنمایی ۱٬۰۰۰ تا ۱٬۰۰۰٬۰۰۰ برابر با قدرت تفکیکی در حد کوچک‌تر از ۱ نانومتر را دارد. میکروسکوپ الکترونی عبوری همچنین توانایی آنالیز عنصری، تعیین ساختار و جهت کریستالی اجزایی به کوچکی ۳۰ نانومتر را به صورت کیفی و کمی دارد.
AFM
Atomic Force Microscope
میکروسکوپ نیروی اتمی یا میکروسکوپ نیروی پویشی در سال ۱۹۸۶ توسط کوئِیْت، بنینگ و گربر اختراع شد.
 
مانند تمام میکروسکوپ‌های پراب پویشی دیگر، از یک پراب (probe) تیز که بر روی سطح نمونهٔ تحت بررسی حرکت می‌کند، استفاده می‌کند.
XRD
X Ray Diffraction
پراش (تفرق) اشعه ایکس روشی برای مطالعهٔ ساختار مواد بلوری است که در سال ۱۹۱۲ میلادی توسط فون لاوه کشف شد و توسط ویلیام هنری براگ و ویلیام لورنس براگ برای بررسی بلورها بکار گرفته شد.
 
اشعه‌های ایکسی که برای پراش استفاده می‌شوند، معمولاً طول موجی در حدود 0.5 الی 2.5 آنگستروم دارند.
 
این روش بر پایهٔ خاصیت موجی اشعه ایکس استوار است. هستهٔ اتم‌ها در یک شبکهٔ کریستالی به فاصلهٔ کمی (در حدود چند آنگستروم) از یکدیگر قرار گرفته‌اند. بازتابش اشعهٔ ایکس از این صفحات متوالی منجر به تداخل سازنده یا ویرانگر امواج ایکس می‌شود. در صورتی که امواج تداخل سازنده داشته باشند، با استفاده از فرمول براگ می‌توان فاصلهٔ صفحات کریستالی و در نتیجه اندازه و نوع سلول واحد را بدست آورد.
MS
Mass Spectroscopy
طیف‌سنجی جرمی (MS) یکی از روش‌های طیف‌سنجی است که شامل جداسازی یون‌های یک یا چند اتمی بر پایهٔ نسبت جرم به بار (m/z) و اندازه‌گیری m/z و فراوانی یون‌ها در فاز گازی است. به عبارت دقیقتر طیف‌سنجی جرمی به بررسی نسبت جرم به بار مولکولها با استفاده از میدانهای الکتریکی و مغناطیسی می‏‌پردازد.