پاسخ به:مقالات اپتيك و فوتونيك ايران
جمعه 25 فروردین 1391 9:39 PM
 27: طراحي و راه اندازي سيستم تداخل سنج ليزري ميکروسکوپي ويژه جهت اندازه گيري مشخصه ناهم مرکزي پوسته ميکروبالن هاي هدف از نوع شفاف  |
| طباطبايي منصور، خالقيان قهار |
| كنفرانس اپتيك و فوتونيك ايران 1385;بهمن 1385(13) |
| کلید واژه: اختلاف راه نوري، تداخل سنج ليزري ميکروسکوپي، عدم تقارن، ناهم مرکزي |
|
خلاصه:
روش تداخل سنج ليزري ميکروسکوپي يکي از روشهاي مهم غير مخرب در تعيين مشخصات ميکروبالن هاي هدف در فرايند گداخت هسته اي به روش محصور سازي اينرسي ميباشد. در اين مقاله تعيين مشخصه ناهم مرکزي سطوح داخلي و خارجي پوسته ميکروبالن هاي شفاف بر مبناي طراحي و راه اندازي نوعي سيستم تداخل سنجي ليزري ميکروسکوپي، مورد توجه قرار گرفته است. بطوريکه در اين روش با اندازه گيري مشخصه نامتقارني طرح فريزهاي تداخلي ناشي از ميکروبالن شفاف به روش تداخل سنجي ليزري ميکروسکوپي، مشخصه ناهم مرکزي سطوح داخلي و خارجي پوسته ميکروبالن شفاف تعيين ميگردد. |
