پاسخ به:دانلود مقالات سرامیک
پنج شنبه 24 فروردین 1391 8:29 PM
 19: ارزيابي عوامل خطا در آناليز شيشه اوپال به روش فلورسانس اشعه ايكس (XRD) با بررسي اثر ماتريس نمونه و فازهاي كريستالي  |
| دهرآزما مهرداد، ظهيري رضا، خورشيدي پژمان |
| كنگره سراميك ايران 1388;ارديبهشت 1388(7) |
| کلید واژه: شيشه اوپال، فلورسانس اشعه ايكس (XRF)، مدل پارامترهاي اساسي، فازهاي كريستالي، XRD |
|
خلاصه:
در اين تحقيق عوامل خطا در آناليز شيشه هاي اوپال به روش فلورسانس اشعه ايكس (XRF) مورد بررسي قرار گرفت. حضور فازهاي كريستالي در شيشه هاي اوپال و ماتريس پيچيده اين شيشه آناليز دقيق آن را با مشكلات فراواني رو به رو مي سازد. در اين مقاله به كمك مدل پارامترهاي اس اسي، اثر ماتريس نمونه بر روي آناليز مواد چند جزيي با فلورسانس اشعه ايكس (XRF) مورد بررسي قرار گرفت و ضرايب تاثير i.ja كه بر پايه فلورسانس اوليه و ثانويه مي باشد، محاسبه گرديد. با اعمال اين مدل رياضي و مقايسه آن با نمونه استاندارد SRM-01 نتايج قابل قبولي براي آناليز شيشه اوپال بدست آمد. با بررسي داده هاي بدست آمده نتيجه گيري مي شود كه از اثر فلورسانس اوليه و ثانويه در مورد آناليز Ba، Ca، Na، F، Si، Al، Zr،Fe در شيشه اوپال نمي توان صرفنظر كرد. همچنين با مطالعه فازهاي كريستالي تشكيل شده در اين شيشه با استفاده از XRD علت انحراف در آناليز اكسيدي عناصر آشكار و ضريب تصحيح آنها نيز محاسبه گرديد. |
